汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證
AEC-Q100認(rèn)證是什么？
AEC-Q100是基于集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機(jī)理。
如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。
零件工作溫度等級(jí)的定義
零件工作溫度等級(jí)定義如下：
0 等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃
1 等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃
2 等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃
3 等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃
AEC-Q100認(rèn)證的要求及目的
測試樣品：
1）批次要求：測試樣品應(yīng)該由認(rèn)證家族中有代表性的器件構(gòu)成，由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測試，表1 中列出的測試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成，并在非連續(xù)成型批次中裝配。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的，或者裝配加工線至少有一個(gè)非認(rèn)證批次；
2）生產(chǎn)要求：所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場所加工處理，有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸。其他電測試場所可以在其電性質(zhì)證實(shí)有效后用于電測量。
3）測試樣品的再利用：已經(jīng)用來做非破壞性認(rèn)證測試的器件可以用來做其他認(rèn)證測試，而做過破壞性認(rèn)證測試的器件則除了工程分析外不能再使用；
4）樣品尺寸要求
用于認(rèn)證測試的樣品尺寸與（或）提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中的最小樣品尺寸和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來認(rèn)證，則特殊的測試條件和結(jié)果必須記錄并對(duì)使用者有可用性?，F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1的每個(gè)測試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求，就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測試。
5)預(yù)前應(yīng)力測試和應(yīng)力測試后要求：表1中的附加要求欄為每個(gè)測試了終端測試溫度（室溫、高溫和低溫）。溫度特殊值必須設(shè)有最差情況，即每個(gè)測試中用至少一個(gè)批次的
通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設(shè)置溫度等級(jí)極端。
6）應(yīng)力測試失效后的定義：
測試失效定義為設(shè)備不符合測試的器件規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表，任何由于環(huán)境測試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測試條件不相關(guān)的原因，失效就算不上，但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。
AEC-Q100試驗(yàn)后元器件失效分析項(xiàng)目：
① 形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
② 成分檢測技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜
③ 電分析技術(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
④ 開封制樣技術(shù)：化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。
⑤ 缺陷定位技術(shù)：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。
車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證業(yè)務(wù)代表：
李紹政（業(yè)務(wù)經(jīng)理） 138-0884-0060（微信同號(hào)）
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