日本JIMA RT CT-05B X射線微米分辨率測(cè)試卡
先jin的微米技術(shù)實(shí)現(xiàn)了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對(duì)分辨率測(cè)試卡。 當(dāng)今,微焦點(diǎn)成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測(cè)試卡則是調(diào)整、設(shè)置、檢查和維護(hù) X 射線系統(tǒng)的必要工具。
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