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產品簡介
高溫試驗低溫試驗高低溫試驗測試
高溫試驗低溫試驗高低溫試驗測試
產品價格：￥898
上架日期：2011-05-20 14:24:12
產地：全球
發(fā)貨地：全球
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詳細說明
            
    　高溫試驗
    80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異�，F(xiàn)象。按鍵凸點高溫下塌以及按力變小不作考核。
     
    溫度范圍：10℃～210℃。
     
    　　按GB/T 2423.1—89 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 低溫試驗》;
    　　GB/T 2423.22—87 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 溫度變化試驗方法》
    　　進行低溫試驗及溫度變化試驗。
     
     
     
    低溫試驗
    -30±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后, 各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異�，F(xiàn)象。
     
    溫度范圍：-70℃～10℃。
     
    按GB/T 2423.2—89 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 高溫試驗》;
    　　GB/T 2423.22—87 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 溫度變化試驗方法》
    進行高溫試驗及溫度變化試驗。
     
     
     
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