結(jié)構(gòu)化設(shè)計方法的理論體系尚沒有文獻對其系統(tǒng)地闡述過，本章將在對當前MEMS設(shè)計
過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家工具及過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家設(shè)計方法的特征進行歸納總結(jié)的基礎(chǔ)上，系統(tǒng)地闡述泛結(jié)構(gòu)化MEMS集成設(shè)計方法的
過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家理論體系。在本書中，泛結(jié)構(gòu)化MEMS集成設(shè)計方法的理論體系主要分為集成設(shè)計體系、分
過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家層設(shè)計體系、柔性設(shè)計體系、創(chuàng)成設(shè)計體系和三維設(shè)計體系等五個體系。這五個設(shè)計體系相互
關(guān)聯(lián)、過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家相輔相成完成復(fù)雜的MEMS設(shè)計任務(wù)，并起到提高設(shè)計效率的目的。
2.2集成設(shè)計體系
微機電系統(tǒng)的設(shè)計過程包括MEMS器件的機械結(jié)構(gòu)設(shè)計、接口電路設(shè)計、系統(tǒng)行為建模
與仿真、工藝過程建模與仿真等環(huán)節(jié)，還須要考慮產(chǎn)品的加工制造、封裝和測試等環(huán)節(jié)對設(shè)計
的影響.是一個包含了機械、過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家電子、光、流體和生物等諸多學科內(nèi)容的多學科交叉設(shè)計過程。如
何綜合考過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家慮這些影響因素進行高效的MEMS設(shè)計，是MEMS設(shè)計方法須要解決的關(guān)鍵所在.
集成設(shè)過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家計(Integrated Design)是以并行工程(Concurrent Engineering)、快速原型設(shè)計
(Rapid Prototyping)等先進的設(shè)計制造理念為指導(dǎo)，對設(shè)計過程所涉及的各個環(huán)節(jié)進行綜合
考慮，過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家并通過先進的技術(shù)方法以達到最優(yōu)設(shè)計的設(shè)計理論。其目的在于充分發(fā)揮設(shè)計過程的
潛力，過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家服務(wù)和面向產(chǎn)品的研制與生產(chǎn)過程，得到低的生產(chǎn)與開發(fā)成本、短的研制與生產(chǎn)周期、高
的產(chǎn)品質(zhì)量、高的生產(chǎn)穩(wěn)定性的優(yōu)良設(shè)計。集成設(shè)計的思想已廣泛用于微電子設(shè)計和機械工
程過壓270V，欠壓170V的過欠壓脫扣器生產(chǎn)廠家領(lǐng)域，并產(chǎn)生了良好的效益。而微機電系統(tǒng)這種多設(shè)計環(huán)節(jié)、多影響因素、多學科交叉的設(shè)
