–納米型(NANO)顯微CT柱狀測(cè)試圖樣芯片模體(The Micro-CT Bar Pattern NANO Chip Phantom)可以通過(guò)最為直接、可見(jiàn)的方式評(píng)估3D高分辨率顯微CT(Micro-CT)系統(tǒng)的平面及軸向空間分辨率 —
 納米型(NANO)顯微CT柱狀測(cè)試圖樣模體MicroCT-BarPattern-NANO Phantom |
 兩個(gè)芯片相互垂直、安置在支撐架上，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)平面及軸向空間分辨率的測(cè)量。 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
德國(guó)QRM公司生產(chǎn)的納米型(NANO)顯微CT柱狀測(cè)試圖樣模體(MicroCT-BarPattern-NANO Phantom)是顯微CT條形測(cè)試圖樣模體(MicroCT Bar Pattern Phantom)的升級(jí)版，任然保留了直觀的雙硅芯片相互垂直、通過(guò)塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念。兩個(gè)3 x 3 mm2芯片均呈現(xiàn)數(shù)組線狀或點(diǎn)狀圖樣，寬度和直徑從1μm到10μm不等。
 納米型(NANO)顯微CT柱狀測(cè)試圖樣模體芯片在3.5μm體素顯微CT(Micro-CT)掃描下的影像 |
 3X3 mm芯片上的分辨率圖樣一覽 |
此外，芯片上還顯示有一個(gè)傾斜的邊緣(字母“L”字樣)以及一個(gè)西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結(jié)構(gòu)均以這樣的方式排布于芯片上，從而使用戶僅通過(guò)一次曝光和測(cè)量就可以對(duì)整個(gè)芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評(píng)估。
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硅芯片上的 條形/線性測(cè)試圖樣測(cè)試范圍：
左列數(shù)值為線/點(diǎn)寬[單位:μm] ； |
1μm到10μm的結(jié)構(gòu)圖樣： 顯微CT(Micro-CT)掃描影像 (3.5μm體素) |
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO(air)納米型(NANO)顯微CT柱狀測(cè)試圖樣模體(空氣型)技術(shù)參數(shù)：
模體部分：
芯片部分：
此外，廠家可根據(jù)用戶需求，設(shè)計(jì)適合于不同顯微CT(micro-CT)的支撐架或固定裝置！
一號(hào)區(qū)域(A-G)：
位于芯片的中心區(qū)域；呈現(xiàn)柱狀或點(diǎn)狀圖樣；圖樣分辨率范圍為1μm至10μm。
二號(hào)區(qū)域(A-D)：
位于芯片的邊緣及角落區(qū)域；從不同角度和方向呈現(xiàn)柱狀或點(diǎn)狀圖樣；圖樣分辨率范圍為1μm至10μm。
三號(hào)區(qū)域：
位于芯片的邊緣區(qū)域，以一個(gè)傾斜15°的字母“L”字樣呈現(xiàn)，用于調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)檢測(cè)。
四號(hào)區(qū)域：
扇形圖樣區(qū)域，分辨率范圍為2μm至8μm。
五號(hào)區(qū)域：
放射性星卡檢測(cè)圖樣，36組扇形，分辨率從17.5μm開(kāi)始遞減。
六號(hào)區(qū)域：
點(diǎn)狀網(wǎng)格。點(diǎn)中心間距100μm，點(diǎn)直徑2μm至10μm不等。
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遼寧飛勒科技有限責(zé)任公司
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