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產(chǎn)品簡介
QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測試
QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測試
產(chǎn)品價(jià)格:¥128.00
上架日期:2025-05-07 01:04:06
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
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詳細(xì)說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF/QFN封裝芯片老化測試 型號(hào)QFN40-0.5(6*6)翻蓋老化座 070-6060-400
    封裝/規(guī)格插件
    類型DIP
    間距0.5
    總針腳數(shù)40 1
    圓孔/方孔圓孔
    觸頭鍍層
    工作溫度范圍-45~155℃
    包裝盒裝
    認(rèn)證機(jī)構(gòu)CE
    最小包裝量1
    封裝QFN
    數(shù)量1
    批號(hào)以出貨為準(zhǔn)
    品牌HMILU

    QFN40-0.5-6x6測試座
    1.引腳:40 signal Pin 1 GND;
    2.間距:0.5mm
    3.尺寸:6*6mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.









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