| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 蔡司 | ||
| 是否支持加工定制 | 否 | ||
| 可售賣地 | 北京;天津;河北;山西;內(nèi)蒙古;遼寧;吉林;黑龍江;上海;江蘇;浙江;安徽;福建;江西;山東;河南;湖北;湖南;廣東;廣西;海南;重慶;四川;貴州;云南;西藏;陜西;甘肅;青海;寧夏;新疆 | ||
蔡司 Xradia 800 Ultra
總體描述
創(chuàng)新的 Xradia 800 Ultra，將高通量實驗室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學(xué)器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中，從而填補了 SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng) microCT 技術(shù)之間的空白。
技術(shù)參數(shù)：
無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像
在原位設(shè)備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能
視野可在 15 至 60 μm 的范圍內(nèi)進(jìn)行切換
吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
在實驗室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測試你計劃的同步實驗，讓有限的同步輻射時間更加有效率
搭配 Scout-and-Scan 控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室
特點：
Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm，使微觀結(jié)構(gòu)和進(jìn)程可視化，這些是傳統(tǒng)實驗室 X 射線技術(shù)不能實現(xiàn)的。在 X 射線能量為8 KeV下運行，極佳的穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。
集成相位襯度技術(shù)的 Xradia 800 Ultra 運用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術(shù)，提供可信賴的內(nèi)部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究。
