無(wú)損膜厚儀、無(wú)損鍍層測(cè)厚儀、X射線鍍層測(cè)厚儀、熒光膜厚儀
德國(guó)菲希爾Fischer X-RAY XDL X射線無(wú)損熒光鍍層厚度測(cè)試儀
一、儀器介紹
頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。能通過(guò)“應(yīng)用工具箱"(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化畫中畫測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測(cè)量的距離，見(jiàn)背面)圖形化的用戶界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中 對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺(jué)控制的校正(DCM方法)范圍可達(dá)80mm(3.2〞)
典型的應(yīng)用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
測(cè)量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量)
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金，包括金的開(kāi)數(shù)分析的特殊功能。
對(duì)電鍍?nèi)芤旱姆治瞿芰蛇_(dá)包含一或二種陽(yáng)離子的電鍍液。
三、技術(shù)參數(shù)：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測(cè)試方法；
2.原始射線從上至下；
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至最佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.單個(gè)0.3mm直徑(12 mils)的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器，在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準(zhǔn)器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測(cè)量箱外部尺寸：(高×寬×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞)，重量大約為105kg(120lbs)；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：(高×寬×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
7.嵌入式固定的測(cè)試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測(cè)試工件。
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