| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型號 | UF60 |
| 加工定制 | 是 | 顯示方式 | 指針式 |
| 結(jié)構(gòu)型式 | 其他 | 外形尺寸 | 30mm*40mm*160mm |
| 應用領(lǐng)域 | 其他 | 產(chǎn)地 | 日本 |
晶圓探針機 飛針探測臺
東京精密Accretech uf60 wafter probin machine
探針臺是對晶圓上形成的所有芯片進行電氣特性的測試的設(shè)備。使用這臺設(shè)備可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。
Accretech UF系列基于一個靈活的平臺，具有高精度和高剛性，UF系列的一個更好的改進型，在整個裝配和線寬越來越小的半導體技術(shù)進步過程中，該臺設(shè)備主要用于晶圓比較薄的工藝。
UF60搭載圖像處理系統(tǒng)，實現(xiàn)自動化對齊，裝備標準上下料單元，適合測試分立器件的半自動探針臺，是一款適合8英寸晶圓/硅片的多用途設(shè)備。
歡迎咨詢，電話：13510801076徐先生
