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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
汽車電子元器件AEC-Q200認(rèn)證?,元器件高加速試驗(yàn)
產(chǎn)品價(jià)格:¥100000.00元/批
上架日期:2024-04-22
發(fā)貨地:廣東 廣州市
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詳細(xì)說明
    詳細(xì)參數(shù)
    公司名稱廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司服務(wù)內(nèi)容AEC-Q200認(rèn)證
    專業(yè)領(lǐng)域汽車電子元器件AEC-Q200認(rèn)證咨詢熱線13808840060
    所在地廣州 寧夏 福建 四川 山東 江蘇 上海 天津 內(nèi)蒙 河北 湖北 其他

    汽車電子元器件AEC-Q200認(rèn)證


    目前汽車產(chǎn)業(yè)中針對(duì)于零件資格及品質(zhì)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的就是AEC(汽車電子委員會(huì)),針對(duì)于主動(dòng)零件所設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q100],針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200],其規(guī)范了被動(dòng)零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品品質(zhì)與可靠度。

    [AEC-Q200]需要美國(guó)汽車聯(lián)合會(huì)授權(quán)的測(cè)試機(jī)構(gòu)測(cè)試,提出測(cè)試報(bào)告和發(fā)出測(cè)試證書。中國(guó)企業(yè)尚未取得授權(quán)。當(dāng)然客戶指定或是同意的第三方測(cè)試機(jī)構(gòu),也是被認(rèn)可的。

     

    AEC-Q200認(rèn)證是什么?

    AEC-Q200是針對(duì)汽車上應(yīng)用的被動(dòng)元器件的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。

    AEC-Q200:stress test qualification for passive components--被動(dòng)元件汽車級(jí)品質(zhì)認(rèn)證;

    汽車電子的過電壓保護(hù)存在更為嚴(yán)苛的電路條件,因此一般要求制造商通過ISO/TS16949的質(zhì)量體系認(rèn)證,相關(guān)的分立器件要求通過AECQ101認(rèn)證,被動(dòng)元件要求通過AECQ200認(rèn)證,是非常嚴(yán)苛的認(rèn)證規(guī)范。一般來說12V的汽車電子系統(tǒng)使用5-6KW28VTVS(瞬態(tài)抑制二極管),24V的汽車電子系統(tǒng)使用36VTVS即可。

     

    1.1 描述

    AECQ 定義了無源電子器件的低應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證要求和參考測(cè)試條件。使用本標(biāo)準(zhǔn)并不是要解除供應(yīng)商自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性。在本文中,其中的用戶被定義為所有按照規(guī)格書使用其認(rèn)證器件的用戶,用戶有責(zé)任去證實(shí)確認(rèn)所有的認(rèn)證數(shù)據(jù)與本文件相一致。

    1.1.1 應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試的定義:應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試定義為成功地完成本標(biāo)準(zhǔn)中定義的測(cè)試。每一種無源電子器件要求的低溫度范圍(大能力)以及各等級(jí)的典型運(yùn)用案例(指定應(yīng)用)列于下表:

    如果成功完成備注中的器件類型達(dá)到的低溫度等級(jí)的資格認(rèn)證,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了該等級(jí)或更低等級(jí)的AEC認(rèn)證”。對(duì)于低于上述低溫度的資格鑒定,將僅允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了較低等級(jí)的“AEC認(rèn)證”。

    1.2 應(yīng)用承認(rèn):承認(rèn)被定義為用戶同意在他們的應(yīng)用及任何適用的補(bǔ)充文件和任何適用的用戶封裝規(guī)格中使用某零件,但用戶承認(rèn)的方式已經(jīng)超出了本文件的范圍.

     

    2.測(cè)試樣品:

    1)批次要求:批次要求在表格1中有說明;

    2)生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸;

    3)測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;

     

    4)樣品數(shù)量要求:用于認(rèn)證測(cè)試的樣品數(shù)量與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的小樣品數(shù)量和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。當(dāng)對(duì)大量的器件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí),禁止在可靠性測(cè)試中對(duì)產(chǎn)品使用夾具;

     

    5) 預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:除非適用的測(cè)試的附加要求章節(jié)中有指定,預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后只在標(biāo)稱溫度(室溫)下進(jìn)行。在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證,溫度特殊值必須設(shè)有差情況和應(yīng)用的設(shè)計(jì)產(chǎn)品壽命,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設(shè)置溫度等級(jí)極端。例如,如果某供應(yīng)商設(shè)計(jì)一種器件,有意設(shè)置在工作溫度等級(jí)3環(huán)境(-40℃到+80℃),那么終端測(cè)試溫度極端僅需將其作為限定,供適用的應(yīng)力測(cè)試要求指定工作溫度極端下的電氣測(cè)試。針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境(等級(jí)1-40℃到+125℃)應(yīng)用中的認(rèn)證,要測(cè)試至少一個(gè)批次能用到附加終端測(cè)試溫度極端的器件。所有的終端測(cè)試條件必須包括了給定產(chǎn)品系列的所有規(guī)格。

    應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:

    6) 測(cè)試失效定義為器件不符合用戶個(gè)別的器件規(guī)格,應(yīng)力測(cè)試后的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表。任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和用戶認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。供應(yīng)商必須描述每個(gè)應(yīng)力測(cè)試的參數(shù)失效標(biāo)準(zhǔn)作為向用戶提交認(rèn)證數(shù)據(jù)的一部分以批準(zhǔn)。每種器件類型建議的參數(shù)清單應(yīng)包含在每種器件類型測(cè)試表格的后面。

    電子元器件失效分析項(xiàng)目:

     

    ① 形貌分析技術(shù):體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

     

    ② 成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜

     

    ③ 電分析技術(shù):I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

     

    ④ 開封制樣技術(shù):化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。

     

    ⑤ 缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

    元器件失效分析設(shè)備能力

     

    電性測(cè)試:LCR阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測(cè)試儀、ESD測(cè)試儀、探針臺(tái)、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器、頻譜分析儀、數(shù)字/模擬集成電路測(cè)試機(jī)臺(tái)、電磁繼電器測(cè)試系統(tǒng)。

     

    形貌觀察:體視顯微鏡、金相顯微鏡、X-RAY透射系統(tǒng)、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

     

    制樣設(shè)備:機(jī)械開封機(jī)、化學(xué)開封機(jī)、反應(yīng)離子刻蝕機(jī)、研磨拋光機(jī)。

     

    應(yīng)力試驗(yàn)設(shè)備:高低溫試驗(yàn)箱-熱循環(huán)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)箱-熱沖擊試驗(yàn)、振動(dòng)臺(tái)-機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、恒定加速度試驗(yàn)臺(tái)-恒定加速度試驗(yàn)、可編程電源-電壓、功率老煉試驗(yàn)、電子負(fù)載-電流、功率老煉、頻率發(fā)生器-老煉試驗(yàn)、浪涌發(fā)生器-浪涌試驗(yàn)、高溫真空箱。

     

    廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(GRGT)定位行業(yè)高端,引領(lǐng)行業(yè)先鋒,歷經(jīng)近50年的發(fā)展,目前成為一家技術(shù)精湛、服務(wù)精心、管理精細(xì)的一流的計(jì)量檢測(cè)專業(yè)機(jī)構(gòu)。

    GRGT是原國(guó)家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計(jì)量測(cè)試站,通過國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(CNAS)、國(guó)防實(shí)驗(yàn)室(DILAC)和總裝實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可,并通過中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA),是中國(guó)CB實(shí)驗(yàn)室,建立企業(yè)計(jì)量最高標(biāo)準(zhǔn)80多項(xiàng),通過CNAS、DILAC認(rèn)可項(xiàng)目1000多項(xiàng)。


     

    汽車電子元器件失效分析業(yè)務(wù)代表:

    李紹政(業(yè)務(wù)經(jīng)理) 138-0884-0060(微信同號(hào))

    lisz@grgtest.com

     

     

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