詳細(xì)參數(shù) | |||
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品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號(hào) | 1784-PCC1 |
結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點(diǎn)數(shù) | 8 |
功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 24-250V |
輸出頻率 | 50-260HZz | 處理速度 | 25.66s |
程序容量 | 38KB | 數(shù)據(jù)容量 | 42KB |
產(chǎn)品認(rèn)證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.65% |
環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國(guó) |
外形尺寸 | 178mm-235mm |
1784-PCC1卡件
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測(cè)試儀
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對(duì)于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同的影響,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù),要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議,在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后,均會(huì)給出“測(cè)試通過”或“測(cè)試不通過”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問題呢?這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者,均知道有這么一句行話?!霸诰€測(cè)試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的;測(cè)試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為,如器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能不通過,對(duì)此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí),均會(huì)得出“不通過”呢?回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但測(cè)試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測(cè)試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
1784-PCC1卡件
1783-US4T1F |
1783-US4T1H |
1783-US5T |
1783-US5TG |
1783-US6T2F |
1783-US6T2H |
1783-US6T2TG2F |
1783-US6T2TG2H |
1783-US7T1F |
1783-US7T1H |
1783-US8T |
1783-US8TG2GX |
1783-ZMS16TA |
1783-ZMS24TA |
1783-ZMS4T4E2TGN |
1783-ZMS4T4E2TGP |
1783-ZMS8T8E2TGN |
1783-ZMS8T8E2TGP |
1783-ZMS8TA |
1784-CF128 |
1784-PCC1 |
1784-PCD1 |
1784-PCIC |
1784-PKTX |
1784-PKTXD |
1784-SD1 |
1784-SD2 |
1784-SDHC32 |
1784-SDHC8 |
1784-U2CN |
1784-U2DHP |
1784-U2DN |
1785-L40C |
1785-L80C |
1785-ME16 |
1786-BNC |
1786-BNC2TNC |
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