| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型號 | FIB,TEM,SEM |
| 類型 | 元素半導體材料 | 材質(zhì) | 硅 |
| 產(chǎn)品名稱 | 晶圓制造工藝分析,晶圓材料分析 | 顏色 | 其他 |
晶圓制造工藝分析、晶圓材料分析
廣電計量的資質(zhì)能力處于行業(yè)領先水平，截止至2021年12月31日，CNAS認可7166項，CMA認可59345個參數(shù)，CATL認可覆蓋 58個類別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)?質(zhì)量發(fā)展過程中，廣電計量還獲得政府、行業(yè)及社會組織頒發(fā)的資質(zhì)榮譽100余項。
我司集成電路檢測試驗可對包括晶圓、半導體器件提供微觀結(jié)構分析、材料形貌分析、膜層分析、成分分析等檢測分析服務。
晶圓制造工藝分析：
1、14nm及以上制程芯片晶圓制造工藝分析
2、MOSFET制造工藝分析
3、存儲芯片制造工藝分析
半導體材料分析：
材料成分分析、晶型分析、晶格缺陷分析、原子級高分辨分析等。
芯片及半導體器件封裝工藝分析：
封裝工藝異常分析，如TSV孔、Via孔、RDL布線層異常分析。
半導體工藝分析：
刻蝕工藝、鍍膜工藝等半導體工藝分析
廣州廣電計量檢測股份有限公司始建于1964年，是 原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業(yè)技術服務，在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測、元器件篩選與失效分析等多個領域的技術能力及業(yè)務規(guī)模處于國內(nèi)*水平。
廣電計量在全國建有23個綜合性檢測基地，54個分子公司，形成了覆蓋全國的技術服務保障能力，為各行業(yè)和各領域客戶提供便捷計量檢測技術服務。
試驗室地點：廣電計量檢測-浦東試驗室（康橋東路958號）
