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卡件   

1794-TBN

維修技巧之
 
維修經(jīng)驗總結(jié) 
一.帶程序的芯片 
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著 
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 
盡可能給以備份. 
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 
是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定 
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 
所致. 
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來. 
二.復位電路 
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應注意復位問題. 
2.在測試前裝回設(shè)備上,反復開,關(guān)機器試一試.以及多按幾次復 
位鍵. 

卡件 

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1753-OB16

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1753-OW8

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，F(xiàn)uji（富士），F(xiàn)esto（費斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
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,bently (本特利）