甘肅G1/2氣瓶接頭參數(shù)
CGA接頭的由來(lái)以及使用場(chǎng)合?
CGA 是 Compressed Gas Association 的簡(jiǎn)稱,字面的意思為“壓縮氣體協(xié)會(huì)”,
實(shí)際上是指美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì),
甘肅G1/2氣瓶接頭參數(shù)

壓力試驗(yàn)機(jī)適用材料:橡膠、塑料板材、管材、異型材,塑料薄膜、電線電纜、防水卷材、金屬絲、紙箱等材料測(cè)試項(xiàng)目:壓縮試驗(yàn),拉伸試驗(yàn)性能:拉伸試驗(yàn)(應(yīng)力-應(yīng)變?cè)囼?yàn))一般是將材料試樣兩端分別夾在兩個(gè)間隔一定距離的夾具上,兩夾具以一定的速度分離并拉伸試樣,測(cè)定試樣上的應(yīng)力變化,直到試樣破壞為止部分結(jié)構(gòu):感溫棒:旋入式熱電偶,測(cè)溫靈敏、均勻、精度高。發(fā)熱器:旋入式加熱器,功率大、升溫快而且耐用性強(qiáng)。立柱銅套:采用黃銅精制而成,耐磨且無(wú)阻力。
這個(gè)協(xié)會(huì)制定了不同種類的特殊氣體的接頭標(biāo)
準(zhǔn)(特別是針對(duì)鋼瓶閥門的連接接頭),在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中,針對(duì)各種特氣 使用了
不相同的數(shù)字編號(hào)來(lái)區(qū)分接頭,比如660 針對(duì)的是氨氣(Ammonia),在習(xí)慣
上,CGA 660 就是針對(duì)氨氣的接頭。很多人根本不知道(也無(wú)需知道)美國(guó)壓
縮氣體協(xié)會(huì),就像我不知道壓縮氣體協(xié)會(huì)一樣(你知道有壓縮氣體協(xié)
會(huì)嗎?或者你知道壓縮氣體協(xié)會(huì)制定的某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)嗎?)美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì)還
在不斷地修改接頭的標(biāo)準(zhǔn),比如到2002年已經(jīng)出版了標(biāo)準(zhǔn)的第10版。在新的
標(biāo)準(zhǔn)中,有些原有的編號(hào)會(huì)被移去,而新的編號(hào)也會(huì)加進(jìn)來(lái)。特氣接頭使用的
實(shí)際情況比上面說(shuō)的還要更復(fù)雜一些,不同的氣體有可能使用同一個(gè)編號(hào),比
如,BC13 和 NH3 都可以使用CGA660,而同一種氣體有時(shí)也可以使用不同
編號(hào)的接頭,比如,CGA 705和 CGA 660 都可用于氨氣。這部分原因可能來(lái)
自標(biāo)準(zhǔn)的不斷修改和優(yōu)化,根據(jù)新舊標(biāo)準(zhǔn)制造的接頭可能共同存在于市場(chǎng)上。

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利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測(cè)元素的原子蒸氣,使之產(chǎn)生原子熒光,在一定條件下,熒光強(qiáng)度與被測(cè)溶液中待測(cè)元素的濃度關(guān)系遵循Lambert-Beer定律,通過(guò)測(cè)定熒光的強(qiáng)度即可求出待測(cè)樣品中該元素的含量。原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢(shì),并且克服了這兩種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡(jiǎn)單;在低濃度時(shí)校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級(jí),特別是用激光做激發(fā)光源時(shí)更佳,但其存在熒光淬滅效應(yīng),散射光干擾等問(wèn)題。

CGA閥門標(biāo)準(zhǔn)和適用氣體類型
美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì)制定了DOT鋼瓶標(biāo)準(zhǔn)和CGA閥門的標(biāo)準(zhǔn),以利于產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。目前國(guó)內(nèi)從北美進(jìn)口的鋼瓶氣體大多采用CGA標(biāo)準(zhǔn)的閥門,歐洲進(jìn)口氣體則大多采用DIN標(biāo)準(zhǔn)閥門。
CGA 200 C2H2
CGA 320 CO2
CGA 326 N2O
CGA 330 C2H2、N2F4、SiF4、PF5、NF3、HCl、HBr、H2S
CGA 346 Ar
CGA 350 SiH4、H2Se、D2
CGA 510 C2H2
CGA 520 C2H2
CGA 540 O2
CGA 580 O2、N2、Air、Kr、Xe、He、Ne、Ar
CGA 590 SF6、O2
CGA 632 PH3、SiH4
CGA 634 HCl
CGA 638 HF、SF4、WF6
CGA 640 NF3
CGA 642 PH3、SiH4
CGA 660 N2O、C2F6、C2H2ClF3、PH3、SO2
CGA 670 SF4、HF、WF3、O2、N2、Air
CGA 677 N2
CGA 679 F2
CGA 712 N2O
CGA 714 O2
CGA 716 ClF3、C2F6
CGA 718 Kr、Xe、He、Ne、Ar
CGA 722 H2S
CGA 724 H2
CGA 870 O2、N2、Air
CGA 910 O2、N2、Air
CGA 950 O2、N2、Air
CGA 960 N2O
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LED的芯片其實(shí)就是個(gè)半導(dǎo)體,有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過(guò)高,LED會(huì)因被擊穿而損壞,所以很多時(shí)候我們需要去測(cè)量反向電壓。若只是單純要測(cè)量芯片的特性,基本上使用電源和萬(wàn)用表即可。主要可測(cè)試的項(xiàng)目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測(cè)試LED的整體IV曲線特性幾個(gè)參數(shù)正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項(xiàng)目的測(cè)試其實(shí)并不算困難,但必須要選對(duì)合適的測(cè)量?jī)x器。若是選擇了不適合的測(cè)量?jī)x器,測(cè)試的值誤差則會(huì)非常大。
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