導(dǎo)電銀漿厚度測量很容易實(shí)現(xiàn)
導(dǎo)電銀漿用于各種觸摸屏、薄膜開關(guān)、電子玩具、電腦鍵盤、遙控器等電子產(chǎn)品，可起導(dǎo)電、導(dǎo)熱、屏蔽等作用太陽能導(dǎo)電銀漿材料是太陽能的核心技術(shù)之一，是太陽能電池除硅以外最重要的材料，太陽能電池的背電極和正面電極都是用銀漿料在眾多的工藝生產(chǎn)中，有一項生產(chǎn)工藝至關(guān)重要，銀漿厚度關(guān)系著整個產(chǎn)品的質(zhì)量安全，但測量銀漿厚度又是難中之難，這項技術(shù)難點(diǎn)在于銀漿印刷厚度通常只有幾個微米厚度，而要準(zhǔn)確測量這個厚度又不損傷本體這其中難點(diǎn)可想而知。
只有通過光學(xué)原理才能準(zhǔn)確測量銀漿厚度
該測量方法的優(yōu)點(diǎn)是，對物體表面光學(xué)特征不敏感，可以測量各種顏色，各種反射度，各種透射率，包括透明材料和鏡面反射材料。而且由于光線從四面八方照射到樣品，對表面突變的邊緣不易產(chǎn)生影響測量的陰影效應(yīng)。由于光譜分析儀器的分辨率可以達(dá)到納米級別，且對外界干擾光不敏感，所以測量精度高且穩(wěn)定性好。
隨著電子元器件行業(yè)的發(fā)展（LTCC/MLCC)，對于膜片印刷的質(zhì)量要求越來越高，LTCC多層基板生產(chǎn)工藝流程中，印刷作為關(guān)鍵工序之一，要保證其質(zhì)量。印刷質(zhì)量未達(dá)到要求，會直接導(dǎo)致電路短路或電路斷路。
印刷質(zhì)量即印刷精度，包含工藝精度及設(shè)計精度。 LTCC印刷厚度最低可以達(dá)到幾個微米。最高也只有幾十個微米。所以在如何更好的控制其厚度是LTCC工藝過程中比較頭疼的問題。在經(jīng)歷過鋼片干膜測試、接觸式測試、臺階儀測試、激光測試都無法保證印刷厚度只有幾個微米到幾十個微米的測量精度。
應(yīng)用ERT光譜共焦技術(shù)可以直接測量如塑膠基材上的涂層厚度，玻璃上的油墨厚度，電路板上的導(dǎo)電銀漿、薄膜開關(guān)上的導(dǎo)電印刷材料等的厚度。