工作原理：
粒度分布：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）
檢測范圍：
粒徑范圍 0.3nm-10.0μm
ZETA電位 +/- 500mV
Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有專利技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。
儀器參數(shù)
配件
應用領域
