QFP100-0.65翻蓋老化座國產(chǎn)替代本體尺寸14x20帶腳17.9x23.9mm
點擊詢盤WLCSP6-0.4測試座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化驗證
點擊詢盤DFN8-2.08X8翻蓋老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大電流測試
點擊詢盤BGA77-1.27-15x9翻蓋老化座LTM4664系列芯片失效性分析測試用途
點擊詢盤TSSOP14腳芯片測試座IC老化座彈跳座子ots28-0.65-01SSOP14底座
點擊詢盤QFN48測試座0.5間距7*7翻蓋空座彈片老化低阻抗ICC550-0484-004
點擊詢盤QFP44-0.8下壓老化座用于MCUARM芯片主控測試調(diào)試以及老化實驗
點擊詢盤